光学显微镜与扫描电子显微镜在医疗设备测试

光学显微镜和扫描电子显微镜是医疗器械行业的基本检查方法，每一种都有其独特的优势和能力。

扫描电子显微镜(SEM)和光学显微镜(OM)的主要区别在于应用于样品的光束类型。对于光学显微镜来说，应用一束光，允许观察者分析光与样品相互作用的效果。相反，扫描电子显微镜使用电子束来检查样品，让观察者分析电子与材料相互作用的影响。

优点和缺点

光学显微镜是一般检查目的的理想方法，但扫描电子显微镜可以为用户提供令人难以置信的详细地形和成分信息。扫描电子显微镜通常有三种类型的探测器:二次电子探测器(SED)，背散射电子探测器(BSED)和能量色散谱探测器(EDS)。

SED为用户提供详细的地形信息，因为次级电子主要与样品表面相互作用，具有较大的反射角，而BSED为用户提供基本的地形和基本成分信息，因为反向散射电子进一步渗透到材料中，反射角更小。在SEM中，原子序数较低的材料表现为暗，原子序数较高的材料表现为轻，但该方法不能提供准确的化学成分。乐动娱乐官网

EDS提供了详细的化学成分信息。在某些情况下，使用扫描电子显微镜作为二次检查方法是有益的。首先，光学显微镜被用来观察严重的缺陷。使用这种方法可以很容易地操纵样本，并且可以相对快速地绘制和记录所有重大缺陷，以供进一步审查。接下来，使用扫描电子显微镜更详细地观察图表上的大缺陷，并观察光学显微镜看不到的微缺陷。这种两阶段的方法结合了每种检测方法的优点，并在更短的时间内为客户提供更详细的检测(与只使用sem的全表面检测相比)。

Element拥有Aspex 3025型SEM系统，具有自动特征分析(AFA)软件和EDS(能量色散谱)功能。该系统用于医疗器械缺陷的检测以及微粒分析研究。对于后者，从设备脱落的微粒被捕获在镀金或镀碳过滤器上，多达6个过滤器被放置在扫描电镜中进行后续分析。AFA软件单独分析每个过滤器，并收集每个粒子的大量数据。

结论

光学显微镜和扫描电子显微镜是医疗器械行业的基本检查方法，Element提供了这两种功能。每种方法都有优缺点，我们的测试工程师将帮助您确定最适合您的测试需求的方法。结合我们丰富的测试知识，您可以相信Element提供的检测数据是业内最好的。